個人信息：
姓名：武欣 職稱：講師
專業：機械電子工程 學歷層次：博士
辦公室地點：行政樓1107 辦公電話：021-67874553
電子郵箱：xinwu@sues.edu.cn
研究方向：測試計量技術及儀器，包括光學精密測量技術、子孔徑拼接技術、數字化計量技術及應用等
主講課程：《嵌入式系統》、《機械電子工程專業英語》、《機械原理》等
個人簡介：(教育背景、工作經歷)
教育經歷：
2005-2009年 中國礦業大學，機械工程及自動化本科
2009-2011年 中國礦業大學，機械工程碩士
2012-2017年 上海大學，機械電子工程博士
2015-2016年英國哈德斯菲爾德大學 公派聯合培養
工作經歷：
2018年-至今上海工程技術大學 機械與汽車工程學院 講師
主要科研成果：（代表性論文、專利、著作等）
論文：
1.Xin Wu, Ying-Jie Yu, Ke-Bing Mou, er al. In-situ stitching interferometric test system for large plano optics. Advances in Manufacturing. (2018) 6:195–203
2.Xin Wu, Yingjie Yu, Wenhan Zeng, et al. Non-overlap subaperture interferometric testing for large optics. Optics Communications, (2017) 396:191–198
3.Xin Wu, Yingjie Yu, Experimental study on the in-situ measurement for large optical flats. Proc. SPIE 10827. 2018.
4.Xin Wu, Experimental research of dynamic stitching interferometry for large plano optics. Proc. SPIE 10250. 2017.
5.Wu Xin, Te Qi, et al. Systemic errors calibration in dynamic stitching interferometry. Proc. SPIE 98900Z, 2016.
6.Wu Xin,Te Qi, et al. Dynamic stitching interferometric testing for large optical plane. Proc. SPIE 952614, 2015.
7.張小強, 武欣, 王偉榮,于瀛潔. 平面光學元件平面度動態干涉拼接測量[J]. 計量學報, 2016, 37(5). （通訊作者）
專利：
1.超精密磨削大口徑光學元件平面度在位檢測裝置及方法，發明專利201310134419.1，已授權，第1發明人
2.大口徑光學元件動態干涉拼接測量裝置及測量方法，發明專利201410614760.1，已授權，第1發明人
3.大口徑光學元件中低頻面形快速檢測裝置及方法，發明專利201410614996.5，已授權，第1發明人
著作：
1.參與編寫《GPS幾何公差規范及應用圖解》，機械工業出版社
